3D奈米電子顯微鏡 3D X ray Electron Microscopy-SEM-EDS+CT

產品資訊

【非破壞無損檢測_超高解析度3D奈米掃描式電子顯微鏡-SEM-EDS-CT】

探索 3D X 射線成像在材料研究、生命科學、自然資源和工業應用領域的可視化新可能性。

X Ray CT	• volex; 39nm~10um • FOV: Ø 49 – 3414 μm • 光學幾何放大: 20x ~ 1400x • 空間解析度(Spatial resolution):60nm • CT 影像重建: TV-SART，Phase-Contrast
SEM	• 解析度<0.7nm • 探針電流: Max. 500 nA • 檢測器: UED+LED顯示器 • 電子槍: In-lens Schottky Plus field emission gun
數位X光影像	• 電壓: 30KV(最大) • 電流: 500 nA(最大) • 放大倍率: 20x~5500x • 影像像素(Pixel): 1280×1280(pexil，Max.) • 影像畫素大小(Pixiel):55μm
EDS	• XRF光譜解析度: <131 V(Mn Kα) • 檢測器: SDD電子式冷卻檢測器，面積: 30 mm²
電源	AC 220V

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能邁科技是一家代理全球領先科學儀器設備商及綠色產品合規顧問服務公司，行銷業務涵蓋台灣和中國與東南亞，尤其是在XRF相關應用領域及產品物質合規深耕。