產品資訊

桌上型二次靶材XRF Benchtop Lab XRF (Lab X-ray Fluorescence)

  • 元素分析範圍從鈉(Na11)~鈾(U92)

  • 非破壞檢測、無須複雜的前處理

  • 二次靶材適合處理低濃度樣品及低濃度元素精確分析

  • 檢測設備內建PC一體成型加快處理速度

  • 自動針對干擾波峰做排除計算處理

  • 可提供六種計算模式以針對不同情況處理

  • 可分別控制電壓、電流、濾波器等細部條件以針對特定元素深度分析

  • 最多16個樣品轉盤一次處理檢測可省下許多人工時間

  • 針對有害物質重金屬內的鉛(Pb),鎘(Cd)、汞(Hg)、鉻(Cr)、溴(Br)及銻(Sb)等和無鹵素的溴(Br)及氯(Cl)做快篩測量,並且內建檢量線為金屬基質、塑膠基質(PV、PVC)以更精準對應法規

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描述

  • 金屬產業之進料及出貨的品質控管、金屬牌號辨識(PMI)

  • 貴金屬的含量分析、廢棄金屬的回收與分類

  • 電子產品RoHS快篩,符合IEC62321測試方法

  • 歐盟化學品管制REACh有害物質檢測

  • 無鹵(Halogen Free)或低鹵材料檢測

  • 玩具EN 71-3、加州65、CPSIA等消費性產品有害物質檢測

  • 土壤八大重金屬、事業廢棄物毒性特性溶出程序(TCLP)…. NIEA R201.15C

  • 農地檢測、土壤肥力地力監控
  • 適用於多元素定量分析,樣品基質干擾,目標元素需要降低背景值之應用

額外資訊

尺寸

(W)55 x (D)55 x (H)32 (cm)

重量

< 50 kg

光源

X光管 50KV,依據應用可選靶材銀/銠/鎢/鉬/鈀

檢測器

高性能SDD檢測器

電源

AC 110~230V