桌上型XRF有害物質檢測(RoHS、ELV、HF)同時量測鍍層,設備效益最大化

摘要

因應時代工藝的進步,產品設計的趨勢為更輕薄短小,所以在成品的外觀及內部的鍍層膜厚也越鍍越薄,各產業在製造上往往會需要遵照各項國際法令(如如RoHS、HF、CPSIA)等規範來生產,故此檢測設備生產商不斷精益求精,設法研發出更符合現階段產業需求的儀器。能邁科技提供桌上型XRF可同時檢測膜厚與有害物質檢測,並可使用毛細管微區檢測分析極小面積樣品。

桌上型XRF同時檢測膜厚與有害物質的必要性

因應時代工藝的進步,不論是工件的鍍層或是電路板上的金手指厚度,在規格上的要求越來越嚴謹,產品設計的趨勢為更輕薄短小,所以在成品的外觀及內部的Coating鍍層厚度也越鍍越薄,而現代醫學科技發達,過去未知的有害物質現在也一一現形,各產業在製造上往往會需要遵照各項國際法令的規範來生產,故此檢測設備生產商不斷精益求精,設法研發出更符合現階段產業需求的儀器。

早期的XRF膜厚分析XRF有害物質檢測是不同的設備,需要分開購買,對於同時需要兩種功能的業者而言使用上較不便利,能邁科技於獨家代理一款 桌上型XRF同時檢測法規中有害物質(包含RoHS、HF、ELV及其它法規)與鍍層厚度,此設備同時集膜厚及成份分析於一身,更能貼近目前產業的檢測需求!

桌上型XRF鍍層膜厚分析與有害物質檢測特點

圖1. 桌上型XRF有害物質檢測與鍍層膜厚分析

[國際大廠認可指定設備]

韓國三星(Samsung)全球供應鏈指定御用設備,在元素分析與度層膜厚分析等領域達15年以上經驗。

[有害物質分析檢測]

桌上型XRF設備可針對國際法規RoHS 2.0,HF無鹵檢測,ELV廢棄車輛指令以及其它多種法規中的有害物質進行檢測分析。

[高達5層鍍層膜厚分析]

桌上型XRF鍍層分析,可同時進行多層鍍層膜厚分析,可分析每一層的厚度,最高可分析五層鍍層。

[測試樣品台XYZ三軸全自動移動]

桌上型XRF搭載XYZ三軸全自動移動平台,且具備雷射定位系統,檢測定位更精準有效率。

[3D Mapping測試數據趨勢分析]

桌上型XRF鍍層膜厚分析儀,圖像化顯示多筆測試數據,透過3D Mapping一目了然批量測試品質趨勢,提升品管及製程品質控管。

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小面積樣品需要鍍層厚度檢測?毛細管微曲檢測分析

當樣品較小或是需要檢測特定位置零件鍍層厚度時,傳統方法是使用準直器(Collimator),準直器的原理是屏蔽並縮小X光束的尺寸,讓X光束可以完全照射在待測物上,避免分析時過大的X光束打到旁邊的區域造成失真。

除了準直器之外,可使用毛細管光學元件(Polycapillary optics),透過光學元件可以讓X光束的尺寸聚焦縮小至20um以下的檢測面積,還可以同時在縮小的過程中聚焦強化X光的強度,使待測物激發出更多的訊號,讓分析結果更為精準,能邁科技提供的桌上型XRF可搭載毛細管光學元件,針對微區待測物進行膜厚量測分析。

圖2. 準直器與毛細管

更多毛細管微區檢測資訊:

XRF有害物質檢測可以解決哪些法規控管的需求?

國際上有許多法規列管不同的有害物質,最知名的就是歐盟的RoHS2.0,還有綠色和平組織的無鹵HF(Halogen Free),廢棄車輛指令ELV,歐盟玩具安全指令EN71-3,美國消費者保護法CPSIA,以上法規(指令)中列管的有害物質,大多數的製造商都可以透過XRF做初步快篩分析。

表1. 法規管制物限值(RoHS2.0、ELV廢棄車輛、HF無鹵、CPSIA)

表2. EN71-3管制物質及其限值(2019更新)

因XRF分析原理的限制,EN71-3當中有部分項目無法進行分析,例如:硼(B)、三價鉻、六價鉻、有機錫等。

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