描述
多應用雙光學系統(穿透-反射)組合幾何測角儀設計，具有穿透(透射)或謝勒(Debye-Scherrer)，布拉格-布倫塔諾( Bragg-Brentano)等高質量分析應用
混合式XRD光學系統，獲得到高解析度光譜，收集到最廣的2θ角
特點說明
規格說明
應用介紹
特點說明
混合式雙光學XRD系統-穿透/反射，獲得到高解析度光譜，收集到最廣的2θ角(0.3~140)
具有下列特點:
1. 2θ不會有產生角度偏移的誤差。
2. 不受樣品高度(厚度)變化造成的X-ray照射位移
3. 不受材料密度差異，造成X-ray穿透吸收的問題
4. 減少毛細管樣品受到方向性的問題
規格說明
1. 尺寸: 1800 x 880 x 2050 mm
2. 重量: 670Kg
3. 可使用多種X-ray靶材: Ag, Fe, Cu, Co,Mo
4.符合cGMP規範 CFR 21 Part 11
應用介紹
- 混合式XRD雙光學系統_粉末/塊材，高精度高解析度
- 適用樣品型態: 粉末材料，塊狀(反射)材料，液體，泥狀樣品，毛細管樣品
- 適用應用範圍:奈米薄膜厚度量測(最多六層)，材料表面(介面)粗造度，商用鈕扣電池充放電座，高溫反應器(控制環境)，毛細管(液態樣品)，高通量自動進樣系統
