高X光通量奈米X光管,零暗電流檢測器降低雜訊與德國最大應用科技研究組織弗朗霍夫研究院(Fraunhofer)無損探查技術(EZRT)及集成電路(IIS)兩研究院共同合作開發。
【非破壞無損檢測(NDT)】
【同時具有:3D X ray 顯微鏡CT,掃描式電子顯微鏡(SEM),EDX三種功能】
【影像解析度可達:50nm(奈米)】
【採用最先進奈米X光源與零暗電流檢測器】
【X光影像自動校正】
FOV:Φ49~3414μm
解析度<0.7nm
影像畫數(Pixiel):55μm
<131 V(Mn Kα),SDD電子式冷卻檢測器
AC 220V