產品資訊

桌上型XRF螢光分析儀 Benchtop XRF (X-ray Fluorescence)

以技術新穎、配置彈性、客製化、線上自動化檢測技術,14年來極力發展膜厚檢測核心技術,包含: XRF、四極探頭銅箔測厚及SEM,設備均經過三星集團嚴苛的品質要求,目前美商Molex、SAMSUNG 與LG皆採用,並擴大建置在中國及東南亞供應鏈。

加到詢價單

描述

► 有害物質檢測

✔ RoHS

✔ Reach

✔ Halogen Free無鹵

✔ EN 71-3

✔ 加州65

✔ CPSIA

✔ 其他法規檢測

► 環境分析

✔ 土壤八大重金屬

✔ 事業廢棄物TCLP (符合環保署NIEA R201.15C)

► 金屬合金成份分析

► 鍍層厚度分析

額外資訊

尺寸

(W)39 x (D)45 x (H)37 (cm)

重量

38 kg

準直器

1、3、5mm 可自動更換

光源

X光管 50KV,銠靶材

檢測器

SiPin檢測器,或高性能SDD檢測器;LOD 最低< 125eV

Camera

10 x ~15x

電源

AC 220V