產品資訊

掃描式電子顯微鏡 SEM (Scanning Electron Microscope)

  • 由電子束激發的原子發射的二次電子(secondary electron)。

  • 根據要觀察的為區域可選擇6萬倍率、15萬倍率及30萬倍率。

  • 根據所需情況可以選擇SE、BSE及SE+BSE檢測器以符合需求。

  • 高真空模式避免電子束被空氣中的粒子干擾。

  • 鎢合金或LaB6電子槍可選擇。

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描述

  • 針對各種材料微小區域缺陷例如:LED細部確認

  • 針對樣品細部結構確認例如:Oil fiber結構確認

  • 配合EDXRF系統可以做到表面的元素分析

額外資訊

尺寸

(W)48 x (D)48 x (H)118 (cm)

重量

<90 kg

電子束光源

鎢合金或LaB6

檢測器

SE, BSE, SE+BSE

電源

AC 220V