描述

【友善操作介面】

介面清晰，多種友善提示幫助，僅需使用滑鼠配合滾輪即可操作大多數功能，使用者可以輕易上手。

【高度相容性】

可相容各種XRD設備輸出圖檔，非常見格式可透過智慧辨識功能轉換為圖檔；分析結果可輸出成 .txt 或 .xml等常見檔案，不需特殊軟體即可開啟，輕鬆分享分析結果。

【產生立體結構圖】

可根據XRD圖譜分析結果產生立體結構圖，顯示其晶體結構組成。

【RIR及WPF定量方法】

率先採用RIR(Rietveld Refimement)與WPF(whole pattern Fitting)有效處理擇優取向影響。多年研發經驗，並接納各家廠牌經驗，定量分析結果更準確。

【批次分析】

可一次分析多個圖譜，疊圖比對，可同時比對多組數據的差異性。