►前言
從2006年開始環保署將XRF應用於污染檢測後(NIEA S322.60C; NIEA M320.00C), 各大整治與環檢業者開始利用XRF做為快篩工具
然而, XRF對如土壤快篩, 卻一直無法應用
幾年的精進, 手持XRF在硬體與軟體上的重大突破, 將推到另一個境界
►XRF可達檢測下限 (SiO2基質, 1-2 min測試, DP50)
SDD檢測器訊號接受值為傳統SiPin檢測器的15倍, 解析度可達160keV以下, 由於這兩者重大的突破, 使得就算手持XRF電流為200uA, 也可以在檢測下限上有重大突破
上表可以發現過去在SiPin檢測器, Cd的LOD無法符合農地的需求, 但現在DP50已可達到農地要求
► 干擾問題
在2012年3月份頒布的廢棄物、土壤、底泥及毒性化學物質中元素含量檢測方法草案(NIEA M320.00C)的表四也提供了有可能遇到的干擾問題
→ NIEA M320.00C中表四 (部分節錄)
但若您考慮的元素, 如As Kβ, 其實Hg的Lβ(11.82)也會有重疊的現象，加上其實干擾因素還包含逃逸與加乘波峰等, 在設定上總會遇到兩個元素相衝, 必須做選擇的時候
► 解決辦法
將需要分析的元素列出以後, 將其分類為：必須準確的元素, 參考值即可的元素, 分析的濃度範圍
能邁科技顧問團隊將會根據您的需求, 將元素分類建立不同分析軟體與檢量線, 避免因為干擾問題, 造成數值不可參考的窘境, 失去儀器本身應該會之功效
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