摘要
固體塊狀樣品前處理
固體樣品的要求非常簡單。唯一的條件是要有一個平坦乾淨的表面來進行測量。固體樣品的製備如下進行：
- 拋光樣品以獲得光滑、平坦的表面。對鋼鐵等硬金屬使用研磨，對銅、鋁合金等軟金屬使用車床或銑床。（如果樣品上已經有合適的光滑表面，則可以跳過此步驟）。
- 用金屬銼刀清潔樣品表面。對每種類型的樣品使用單獨的文件非常重要（例如，一個用於鋁合金，一個用於鋼等），否則先前清潔樣品的顆粒可能會帶到樣品表面，這將導致表面污染。
- 如果對錶面清潔度有任何疑問，可以比較樣品研磨前後的測量結果，如果差異明顯，則重新研磨，直到前後結果的差異在測量誤差範圍內。
粉末樣品前處理
準備不同複雜程度的粉末樣品有多種選擇，例如粉末壓實、助熔劑熔化或直接測量精細研磨的粉末。最後一個選項是最簡單和最常用的方法。在這種情況下，有必要：
- 準備用於測量的XRF專用樣品杯和XRF專用薄膜。XRF薄膜類型很多，要為特定任務和設備選擇最合適的類型，若有分析應用請與能邁科技聯繫。
- 研磨樣品。這是獲得均勻混合物是必需的，這樣結果才能代表整個樣品的特性。顆粒越細，效果越好。最佳晶粒尺寸 <75 µm。
- 將粉末倒入專用樣品杯中並測量。同時，測量側的顆粒之間不應有空隙，粉末看起來應該是平坦、均勻的表面。否則，說明樣品不夠精細。
液體樣品前處理
XRF 方法對聚集狀態不敏感，可以直接測量液體樣品。因此，要測量液體樣品，只需：
- 準備專用樣品杯。對於液體，必須使用開專用樣品杯（只有一側有薄膜），否則專用樣品杯薄膜會因液體蒸發而膨脹。
- 為待測液體選擇正確的薄膜。使用XRF薄膜依分析液體樣品酸鹼溶液，極性與非極性及目標元素。
- 重要的是事先檢查用於分析的薄膜中的雜質，因為聚酯類薄膜可能含有可能對分析感興趣的雜質。
- 將薄膜拉到專用樣品杯上（薄膜必須拉緊，不能下垂），倒入液體，即可進行測量。
因此，XRF 中的樣品製備不是一個非常耗時的過程，但不應忽視，因為測量結果的質量取決於它。上述樣品製備步驟足以使用任何 XRF 分析儀獲得良好的結果。
