描述
攜帶型微區面掃描XRF-文化遺產測繪分析儀,用於文化遺產的便攜式微型 XRF mapping技術領先設計,結合美國NASA火星探測技術與國際文化遺產頂尖學術研究單位-法國CNRS合作共同開發。
特點說明
規格說明
應用介紹
特點說明
- 超低空間分辨率<55um
- 毛細管X光聚焦光
- XY電控平台與微型彩色CCD
- 非接觸式無損檢測
規格說明
- 高光束:55um
- 檢測器:高分辨率SDD
- XYZ電控平台:150/300mm
應用介紹
- 文物材質鑑定——確定原始材料與後期修復材料差異
- 考古現場分析——快速識別金屬、陶瓷、顏料等材料成份特徵
- 修復前後監測——量化修復工藝對文物材質影響
- 顏料與塗層研究——分析壁畫、書畫、雕塑等表面微區成分變化
- 瓷盤色釉mapping
- 油畫顏料研究:油畫顏料上色工藝研究
- 陶器,木器顏料研究
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