摘要
在能邁的產業知識「廢棄物、土壤（農地）、底泥及毒性化學物質中元素含量檢測方法－X射線螢光(XRF)法（NIEA M320.00C）」一文中，提到關於手持式XRF在檢測下限（LOD）方面有重大突破。對於要求更嚴格的底泥與農地的土壤檢測者來說，最重視的鎘（Cd）元素如果可以測得更低的數值，可說是一大福音！本文章將針對鎘（Cd）的部分再做進一步的說明。在檢測下限方面，鎘（Cd）元素的數值受到極大的關注，50kV手持式XRF具有鎘2 ppm的檢測下限，此外還同時改善了Ag、Sn、Sb、Ba等金屬的檢測下限（LOD），大幅滿足了底泥與農地等土壤檢測者的需求！
NIEA M320.00C標準方法中對手持XRF檢測鎘(Cd)要求
在能邁的產業知識 「廢棄物、土壤（農地）、底泥及毒性化學物質中元素含量檢測方法－X射線螢光法（NIEA M320.00C）」一文 中，提到關於手持式XRF在檢測下限（LOD）方面有重大突破。對於要求更嚴格的底泥與農地的土壤檢測者來說，最重視的鎘（Cd）元素如果可以測得更低的數值，可說是一大福音！本文章將針對鎘（Cd）的部分再做進一步的說明。
手持XRF對Cd， Ba，Sn，Sb，Hg檢測能力提升
在檢測下限方面，鎘（Cd）元素的數值受到極大的關注， 50kV手持式XRF 具有鎘2 ppm的檢測下限，此外還同時改善了Ag、Sn、Sb、Ba等金屬的檢測下限（LOD），大幅滿足了底泥與農地等土壤檢測者的需求！
40kV和50kV手持式XRF的檢測下限(LOD)比較
下表是40kV和 50kV手持式XRF的檢測下限（LOD）與環保署規範值的比較表：
Olympus-Innov-X的50kV手持式XRF特點
50kV手持式XRF 之所以能夠做到這個突破，是因為擁有下列幾項技術與條件：
1.獨家的土壤模式beam 1光束可操作50 kV, 80 uA (4W)的射線，搭配銅的濾光片，是最適合測量鎘（Cd）元素的組合。
2.擁有最新型的大孔徑SDD 偵測器，。
3.更高的Counting Rate 與 Live time fraction，使 SDD的效能更精進，解析度最高可達140eV。
土壤中鎘(Cd)檢測能力說明
從下面的實例，我們可以了解 50kV手持式XRF 在檢測下限的表現。以底泥與農地所使用的土壤標準品做檢測時，可以得到以下的圖譜，右邊的波鋒群代表鎘元素。此圖包含四種鎘含量的土壤，分別有0.51、4.7、10、21ppm等濃度，理所當然的，當鎘的濃度愈高，波鋒愈明顯；但即使鎘含量在4.7ppm (粉紅色)的低濃度時，仍可看到明顯的波鋒，具有很好的判讀性。
除了檢測下限的突破之外，在精準度方面也有不錯的表現。下圖是美國環保署在許多地質場址取得的待測物(使用NIST分類)所做的分析，以XRF檢測同時也另外送檢測化驗，再將兩者數值作圖後，得到以下結果。
手持式XRF在土壤鎘(Cd)檢測結果與實驗室濕式化學法相近度
其中橫座標是送驗的數值，縱座標是XRF 50kV手持式XRF 的檢測結果，我們可以發現做線性回歸之後，本圖的R²=0.9818，數值非常接近1，表示XRF 50kV手持式XRF 的檢測結果與送測結果非常接近。尤其在低濃度部分 (5~10 ppm)，表現非常優異。
註：判定係數(coefficient of determination) R²愈高，代表配適度愈佳。當R²=1，即迴歸平方和等於總平方和時，稱作完全配適 (perfect fit)。
總結
適用於底泥與農地的土壤檢測的 50kV手持式XRF 手持式X射線螢光分析儀[土壤重金屬分析儀]具有以下幾點產品特色：
1.為測量元素量身訂作的濾光片，可自動切換。
2.智能X-ray訊號處理，自動標準化、將光譜的訊號處理速度提高3倍。
3.使用中不需關機也可更換電池，更換時間達90 秒。
4.高靈敏度的SDD檢測器。
5.新低檢測下限（LOD）。
6.客製化資料庫，精準度更提升：依據客戶需求，建立不同土壤基質(Matrix)的檢量線資料庫，客戶不但可在操作介面上直接點選，其精準度更可媲美ICP的檢測結果 (R²>0.97)。
50kV手持式XRF 不但提升了精準度，更突破了量測上的檢測下限。欲瞭解更多資訊，請洽詢能邁科技！
