現場土壤採樣篩選檢測(EPA6200 Method, NIEA S322.60C)的最佳利器

近年來工商業發達,其相關產業產生之廢棄物或廢水,或石化業及廢五金燃燒產生之排煙及落塵等問題,均可能造成土壤不同程度的重金屬污染,其可能污染土壤的重金屬主要有砷(As)、鎘(Cd)、鉻(Cr)、汞(Hg)、鎳(Ni)、鉛(Pb)、鋅(Zn)及銅(Cu)等八種。根據行政院環保署土壤及地下水污染整治網上所公佈的汙染現況,『國內外農作物遭重金屬污染事件層出不窮,主要為鎘、汞污染造成糙米中鎘、汞含量超過公告限值,而90年於潮州侖頂段附近亦發生土壤含銅量偏高事件,顯示台灣地區農地重金屬污染已威脅到民眾之健康。』其他例如農地重金屬污染比較有名的案例:(1).桃園中福地區鎘污染,(2). 彰化鎘米事件;工廠重金屬污染比較有名的案例:(1).台鹼安順廠汞污染,(2).台北市高銀化工汞污染等,可見目前重金屬鎘、汞等的汙染廠址的調查、篩選與整治已是目前重要的課題。

  攜帶式X-射線螢光光譜儀(XRF,Alpha4000、X-50)由於具有攜帶方便、非破壞、以及現地採樣檢測的優點,各國環保單位紛紛採用X-射線螢光光譜儀作為土壤中重金屬污染先行採樣篩選的工具,包括美國EPA所頒佈的【EPA6200 Method】篩選採樣方法,以及依據行政院環保署環境檢驗所 【NIEA S322.60C】所公告的「土壤和底泥中元素濃度快速篩選方法-攜帶式X-射線螢光光譜儀分析法」,目前已經有越來越多的業者利用攜帶式X射線螢光光譜儀做為現地調查不可或缺的工具。

  以目前法規所規定的重金屬分析方法,採樣的土壤必須經過自然風乾、過篩、消化前處理之後,才能進行AA或者是ICP上機測試,從採樣到實際得到分析報告至少需要兩個星期的時間,因此,無論是在先期確認污染廠址的土壤採樣初步篩選、污染範圍細密調查作業,甚至於污染整治過程中成效上的即時評估或客土的品質好壞與否,都可以利用攜帶式X-射線螢光光譜儀(XRF,Alpha4000、X-50)作為快速的檢測工具,提供即時的重金屬汙染狀況,增加分析上的時效性。

  X-50除了具有攜帶式XRF的輕巧便利外,兼具桌上型XRF的低偵測下線及準確性前攜帶XRF中精準度最佳、偵測下限最低的攜帶式XRF,尤其是針對鎘(Cd)、汞(Hg)重金屬元素一般的攜帶式XRF很難達到很低的檢測下線,全新機種X-50針對 鎘(Cd)、汞(Hg)這兩元素可達到1ppm的偵測下限,可以滿足檢測農地的低檢測標準,目前X-50該機型已經正式被台灣的檢測業者引用,作為鎘(Cd)、汞(Hg) 現地採樣篩選的最新利器,可以提供更全面、更精確的土壤篩選能力。

  下圖為X-50攜帶式X-射線螢光光譜儀與感應耦合電漿光譜儀(ICP)實際比對的結果。

X-50攜帶式X-射線螢光光譜儀特點︰
 

1.操作便利︰Windows 操作介面,易學易操作,報告輸出便利。

2.偵測下限低︰具有桌上型XRF相當的低偵測極限,尤其針對鎘(Cd)、汞(Hg)這兩元素可達到1ppm的偵測下限。

3.操作安全性高︰具有密閉式檢測空間,提高輻射操作安全性。

4..攜帶方便︰電腦、樣品室、測試本體一體成型,體積小攜帶方便。

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