摘要
高階桌上型XRF，搭載高達八種二次靶材，針對目標檢測元素以最洽當分析，在低訊躁比的條件下獲得極佳檢測限。並搭配進階計算分析軟體，針對不同圖譜狀況選用恰當定量計算方法。可解決複雜基質的背景干擾，降低材料造成的散亂線造成的影響，提供具可性度的分析結果。
儀器特色
二次靶材
二次靶材技術，降低分析訊躁比，獲得最佳檢測限
提供八種二次靶材，針對檢測目標元素選用最洽當的檢測方法
圖1. 二次靶材設計說明
進階計算分析軟體
圖2. 進階計算分析軟體
多種計算定量計算方式，依照元素圖譜效果進行修正，除了清晰波峰、不同強度背景干擾、元素間干擾等狀況進行修正。
可建立非線性檢量線，濃度與訊號比例非理想正比關係，當濃度範圍越廣差異越明顯，可依元素特性及濃度涵蓋範圍建立非線性檢量線，提供更貼近實際狀況的分析數據。
檢測環境充填氦氣/真空
標配可提供氦氣/真空檢測環境，對應不同類型樣品在輕元素分析時減少空氣造成的背景干擾影響。
內建標準品
設備內建高達6種標準品，提供設備進行自動校正，確保設備維持最佳分析狀態。
應用領域
多種基質樣品分析
不同基質因材料特性與密度不同的影響，產生背景干擾的散亂線，這種現象又稱為康普吞散射或康普吞效應(Compton effect)。可透過二次靶材技術，以去除多餘能量訊號的單一光對樣品進行激發，大幅度減少康普吞效應造成的散亂線背景干擾。
適用於多種不同類型基質材料分析，如環境土壤分析、廢棄物處理業者、礦石成分檢驗。
收回廢棄物時必須針對其成分進行分析，確認後續的處理方式，例如含高硫氯會傷害焚化爐爐體、含大量重金屬可能為有害廢棄物。但廢棄物樣品種類多樣化，包含金屬、PE塑膠、PVC塑膠等多種類型。元素分析時勢必會受到康普吞效應的背景干擾，導致量測數據不準確。二次靶材技術可以大幅降低背景干擾，分析數據更準確，避免誤判廢棄物處理方式造成額外的成本。
元素干擾分析解決方案
XRF分析時，當元素特徵光相近，會造成圖譜訊號重疊造成定量分析的虛增誤差。透過改變激發條件，避免干擾元素的激發，隔絕干擾的產生獲得準確定量分析結果。例如樣品中含高鋇(Ba)時氯元素的分析將會受到干擾，二次靶材如何有效解決？
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